狹縫掃描光束分析儀NanoScan 2

簡要描述：狹縫掃描光束分析儀NanoScan 2，源自2010 年加入OPHIR 集團(tuán)的PHOTON INC。PHOTON INC 自1984 年開始研發(fā)生產(chǎn)掃描式光束分析儀，在光通訊、LD/LED 測試等領(lǐng)域享有盛名。掃描式與相機(jī)式光斑分析儀的互補(bǔ)聯(lián)合使得OPHIR可提供完備的光束分析解決方案

產(chǎn)品型號：
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2025-03-21
訪問量： 1150

產(chǎn)品咨詢聯(lián)系我們

產(chǎn)品分類

Product Category

相關(guān)文章

詳細(xì)介紹

品牌	其他品牌	產(chǎn)地類別	進(jìn)口
應(yīng)用領(lǐng)域	綜合

掃描式光束分析是一種經(jīng)典的光斑測量技術(shù)，通過狹縫/ 小孔取樣激光光束的一部分，將取樣部分通過單點(diǎn)光電探測器測量強(qiáng)度，再通過掃描狹縫/ 小孔的位置，復(fù)原整個(gè)光斑的分布。

掃描式光束分析儀的優(yōu)點(diǎn)：

• 取樣尺度可以到微米量級，遠(yuǎn)小于CCD 像素，可獲得較高的空間分辨率而無需放大；

• 采用單點(diǎn)探測器，適應(yīng)紫外~ 中遠(yuǎn)紅外寬范圍波段；

• 單點(diǎn)探測器具備很高的動態(tài)范圍，一個(gè)探頭可同時(shí)適應(yīng)弱光和強(qiáng)光分析。

掃描式光束分析儀的缺點(diǎn)：

• 多次掃描重構(gòu)光束分布，不適合輸出不穩(wěn)定的激光；

• 不適合非典型分布的激光，近場光斑有熱斑、有條紋等的狀況。

掃描式光束分析儀與相機(jī)式光束分析儀是互補(bǔ)關(guān)系而非替代關(guān)系；在很多應(yīng)用，如小光斑測量（焦點(diǎn)測量）、紅外高分辨率光束分析等方面，掃描式光束分析儀具備du特的優(yōu)勢。

NanoScan 2s 系列狹縫掃描式光束分析儀，源自2010 年加入OPHIR 集團(tuán)的PHOTON INC。PHOTON INC 自1984 年開始研發(fā)生產(chǎn)掃描式光束分析儀，在光通訊、LD/LED 測試等領(lǐng)域享有盛名。掃描式與相機(jī)式光斑分析儀的互補(bǔ)聯(lián)合使得OPHIR可提供完備的光束分析解決方案。

特點(diǎn)和功能：

• 可測量連續(xù)激光以及大于1KHz 重頻的脈沖激光

• 取樣間隔可以調(diào)節(jié)小到5.7nm，使其能夠極其精確地測量非常小的光斑，

• 可顯示2D/3D 光斑形貌

• 掃描速度可調(diào)諧

• 16 位數(shù)字化信號采集，35dB 高動態(tài)范圍，20Hz *刷新頻率

• 支持用戶進(jìn)行二次開發(fā)，便于集成

• 探頭可添加功率計(jì)選項(xiàng)

• 硅、鍺和熱釋電探測器可選，測量范圍可覆蓋很寬的光譜范圍和功率級別

• 不加衰減就可以測量較高功率或焦點(diǎn)處光斑

• 所有的NanoScan 的校準(zhǔn)都可以朔源NIST 標(biāo)準(zhǔn)以確保*終的精度

• 符合國際標(biāo)準(zhǔn)ISO/DIN 11146 及ISO13694。（1989~1996 年，Photon 公司主持了ISO/DIN 委員會的工作，制訂出了ISO/DIN11146 標(biāo)準(zhǔn)）